SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
基于FPGA的高速并行光通信误码率测试系统
刘博; 杨宇; 陈雄斌; 陈弘达
2010
Source Publication高技术通讯
Volume20Issue:9Pages:955-959
Abstract利用高性能、低成本的现场可编程门阵列(FPGA)芯片、个人电脑和应用软件研制出了可应用于高速并行光通信系统误码率测试的虚拟测试系统.此系统可对不同速率与通信格式的多通道并行光通信系统进行误码率测试,支持对速率为lOGb/s的VSR4-1.0协议的甚短距离光传输(VSR)系统的误码测试.该系统最多可支持12条测试信道,单信道最高测试速率为1.25Gb/s,为研制高速并行光通信系统提供了一个方便、快捷、灵活的初级误码率测试手段.该系统可降低并行通信系统的研发成本,缩短测试周期,提高工作效率
metadata_83集成光电子学国家重点实验室
Subject Area光电子学
Funding Organization863计划,国家自然科学基金,国家科技支撑计划
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:4037808
Date Available2011-08-16
Citation statistics
Cited Times:2[CSCD]   [CSCD Record]
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21564
Collection集成光电子学国家重点实验室
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GB/T 7714
刘博,杨宇,陈雄斌,等. 基于FPGA的高速并行光通信误码率测试系统[J]. 高技术通讯,2010,20(9):955-959.
APA 刘博,杨宇,陈雄斌,&陈弘达.(2010).基于FPGA的高速并行光通信误码率测试系统.高技术通讯,20(9),955-959.
MLA 刘博,et al."基于FPGA的高速并行光通信误码率测试系统".高技术通讯 20.9(2010):955-959.
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基于FPGA的高速并行光通信误码率测试系(875KB) 限制开放--Application Full Text
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