| STBC-VBLAST的QRD-M检测 | |
鉴海防 ; 胡东伟; 肖宛昂; 石寅
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| 2010 | |
| Source Publication | 电子科技大学学报
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| Volume | 39Issue:6Pages:940-943 |
| Contribution Rank | 江苏省科技成果转化专项资金 |
| metadata_83 | 高性能集成电路实验室 |
| Subject Area | 微电子学 |
| Indexed By | CSCD |
| CSCD ID | CSCD:4057873 |
| Date Available | 2011-08-04 |
| Citation statistics | |
| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21500 |
| Collection | 高性能集成电路实验室 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 鉴海防,胡东伟,肖宛昂,等. STBC-VBLAST的QRD-M检测[J]. 电子科技大学学报,2010,39(6):940-943. |
| APA | 鉴海防,胡东伟,肖宛昂,&石寅.(2010).STBC-VBLAST的QRD-M检测.电子科技大学学报,39(6),940-943. |
| MLA | 鉴海防,et al."STBC-VBLAST的QRD-M检测".电子科技大学学报 39.6(2010):940-943. |
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| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| STBC_VBLAST的QRD_M检测.（870KB） | 限制开放 | -- | Application Full Text | |||
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