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SEMI OpenIR  > 半导体集成技术工程研究中心  > 会议论文

题名: Exploring IEEE 1149.1 EXTEST for External Interconnect of a Multi-FPGA
作者: Zhao Y (Zhao Yan);  Han XO (Han Xiaowei);  Wu LH (Wu Lihua);  Yu F (Yu Fang)
出版日期: 2011
会议日期: NOV 06-07, 2010
会议名称: International Conference on Micro Nano Devices, Structure and Computing Systems
会议文集: MICRO NANO DEVICES, STRUCTURE AND COMPUTING SYSTEMS, 159: 538-543
专题: 半导体集成技术工程研究中心 _会议论文

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Exploring IEEE 1149.1 EXTEST for External Interconnect of a Multi-FPGA.pdf398KbAdobe PDF 联系获取全文


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Zhao Y (Zhao Yan); Han XO (Han Xiaowei); Wu LH (Wu Lihua); Yu F (Yu Fang).Exploring IEEE 1149.1 EXTEST for External Interconnect of a Multi-FPGA.MICRO NANO DEVICES, STRUCTURE AND COMPUTING SYSTEMS, 159: 538-543.2011
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