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SiGe/Si异质结构的x射线双晶衍射 | |
邹德恕; 徐晨; 罗辑; 魏欢; 董欣; 周静; 杜金玉; 高国; 陈建新; 沈光地; 王玉田![]() | |
2000 | |
Source Publication | 半导体技术
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Volume | 25Issue:1Pages:36 |
Abstract | 通过X射线双晶衍射图形讨论了SiGe/Si HBT的电学特性与晶格结构的关系。 |
metadata_83 | 北京工业大学电子工程系;中科院半导体所 |
Subject Area | 半导体材料 |
Funding Organization | 北京市自然科学基金,国家863计划 |
Indexed By | CSCD |
Language | 中文 |
CSCD ID | CSCD:532148 |
Date Available | 2010-11-23 |
Citation statistics | |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18973 |
Collection | 中国科学院半导体研究所(2009年前) |
Recommended Citation GB/T 7714 | 邹德恕,徐晨,罗辑,等. SiGe/Si异质结构的x射线双晶衍射[J]. 半导体技术,2000,25(1):36. |
APA | 邹德恕.,徐晨.,罗辑.,魏欢.,董欣.,...&王玉田.(2000).SiGe/Si异质结构的x射线双晶衍射.半导体技术,25(1),36. |
MLA | 邹德恕,et al."SiGe/Si异质结构的x射线双晶衍射".半导体技术 25.1(2000):36. |
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