SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)
偏振差分反射谱(RDS)测试系统
万寿科; 陈涌海; 王占国
2000
Source Publication功能材料与器件学报
Volume6Issue:4Pages:388
Abstract利用RDS测试系统,可以在近垂直入射条件下,测量出样品的反射系数在样品平面内两个互相垂直的方向上的细微差异,即所谓平面内光学各向异性。它对研究半导体材料及其量子阱超晶格等低维结构中的平面内光学各向同性、半导体表面重构和对外延生长过程中的实时监控都具有重要作用。该系统已为研究工作提供了大量数据。
metadata_83中科院半导体所
Subject Area半导体材料
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:608064
Date Available2010-11-23
Citation statistics
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18427
Collection中国科学院半导体研究所(2009年前)
Recommended Citation
GB/T 7714
万寿科,陈涌海,王占国. 偏振差分反射谱(RDS)测试系统[J]. 功能材料与器件学报,2000,6(4):388.
APA 万寿科,陈涌海,&王占国.(2000).偏振差分反射谱(RDS)测试系统.功能材料与器件学报,6(4),388.
MLA 万寿科,et al."偏振差分反射谱(RDS)测试系统".功能材料与器件学报 6.4(2000):388.
Files in This Item:
File Name/Size DocType Version Access License
5261.pdf(310KB) 限制开放--Application Full Text
Related Services
Recommend this item
Bookmark
Usage statistics
Export to Endnote
Google Scholar
Similar articles in Google Scholar
[万寿科]'s Articles
[陈涌海]'s Articles
[王占国]'s Articles
Baidu academic
Similar articles in Baidu academic
[万寿科]'s Articles
[陈涌海]'s Articles
[王占国]'s Articles
Bing Scholar
Similar articles in Bing Scholar
[万寿科]'s Articles
[陈涌海]'s Articles
[王占国]'s Articles
Terms of Use
No data!
Social Bookmark/Share
All comments (0)
No comment.
 

Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.