光学扫描全息系统中提高光电探测系统测量精度的方法

SEMI OpenIR > 中国科学院半导体研究所（2009年前）

	光学扫描全息系统中提高光电探测系统测量精度的方法
	刘守渔; 梁万国; 谢敬辉; 赵达尊
	2000
Source Publication	激光杂志
Volume	21 Issue:6 Pages:38
Abstract	给出了光学扫描全息术的基本原理,记录时用实时FZP与物体强度透射率发生卷积从而产生扫描全息图,再现时用与记录时相对应的FZP与全息图信号发生卷积即可再现出物体的信息。提出了单光源、双光路的光源补偿光路,以消除由于光源的不稳定带来的实验误差。
metadata_83	达县师范高等专科学校;中科院半导体所;北京理工大学光电工程系
Subject Area	光电子学
Indexed By	CSCD
Language	中文
CSCD ID	CSCD:658903
Date Available	2010-11-23
Citation statistics
Document Type	期刊论文
Identifier	http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18319
Collection	中国科学院半导体研究所（2009年前）
Recommended Citation GB/T 7714	刘守渔,梁万国,谢敬辉,等. 光学扫描全息系统中提高光电探测系统测量精度的方法[J]. 激光杂志,2000,21(6):38.
APA	刘守渔,梁万国,谢敬辉,&赵达尊.(2000).光学扫描全息系统中提高光电探测系统测量精度的方法.激光杂志,21(6),38.
MLA	刘守渔,et al."光学扫描全息系统中提高光电探测系统测量精度的方法".激光杂志 21.6(2000):38.

Related Services

Bookmark

Google Scholar

Similar articles in Bing Scholar

Terms of Use

No data!

Social Bookmark/Share

All comments (0)

No comment.

The comment function is only available to registered usersLog In

If you have any objections to this item, please fill out the form below and the administrator will contact you as soon as possible.
Content:
Email：	*
Institution:
Verification Code:	Refresh

Any comments and suggestions are welcomed.
Title:	*
Content:
Email：	*
Verification Code:	Refresh

中国科学院半导体研究所机构知识库