SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)
简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的研究
史伟; 房昌水; 潘奇伟; 孟凡青; 顾庆天; 许东; 陈钢进; 余金中
2000
Source Publication物理学报
Volume49Issue:2Pages:262
Abstract简单反射法是电光聚合物薄膜研究中测量线性电光系数(Pockels系数)的一种简单而常采用的方法,但文献中关于在调制电场作用下s光和p光光程差和位相差改变的计算有不尽完善之处,线性电光系数的表达结果也不尽相同。在充分考虑各种因素的情况下,对该方法给出了合理的理论处理,得出了简单反射法更为严格的线性电光系数表达式。并测量对比了几种聚合物线性电光系数的结果。讨论了简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的局限性。
metadata_83山东大学;同济大学波耳固体物理研究所;中科院半导体所
Subject Area光电子学
Funding Organization国家自然科学基金
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:782415
Date Available2010-11-23
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Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18261
Collection中国科学院半导体研究所(2009年前)
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GB/T 7714
史伟,房昌水,潘奇伟,等. 简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的研究[J]. 物理学报,2000,49(2):262.
APA 史伟.,房昌水.,潘奇伟.,孟凡青.,顾庆天.,...&余金中.(2000).简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的研究.物理学报,49(2),262.
MLA 史伟,et al."简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的研究".物理学报 49.2(2000):262.
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