SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)
MSIBD金刚石颗粒的电子显微镜研究
姚湲; 谬梅勇; 王占国; 李述汤
2002
Source Publication电子显微学报
Volume21Issue:5Pages:607-608
Abstract金刚石在很多领域有着广泛的用途,因而金刚石的生长技术历来受到重视。在众多的生长技术中,质量选择粒子束(MSIBD)是一个引人注目的生长技术。但是这一方法能否得到金刚石,尚未有明确的结论。我们利用高分辩电子显微镜结合电子能量损失谱,观察了用这一方法制备的样品,以期为研究金刚石的生长机理提供更多的线索。
metadata_83香港城市大学物理和材料科学系及超金刚石和先进薄膜中心;中国科学院半导体研究所
Subject Area半导体材料
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:980701
Date Available2010-11-23
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Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18059
Collection中国科学院半导体研究所(2009年前)
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GB/T 7714
姚湲,谬梅勇,王占国,等. MSIBD金刚石颗粒的电子显微镜研究[J]. 电子显微学报,2002,21(5):607-608.
APA 姚湲,谬梅勇,王占国,&李述汤.(2002).MSIBD金刚石颗粒的电子显微镜研究.电子显微学报,21(5),607-608.
MLA 姚湲,et al."MSIBD金刚石颗粒的电子显微镜研究".电子显微学报 21.5(2002):607-608.
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