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| MSIBD金刚石颗粒的电子显微镜研究 | |
| 姚湲; 谬梅勇; 王占国; 李述汤 | |
| 2002 | |
| Source Publication | 电子显微学报
 |
| Volume | 21Issue:5Pages:607-608 |
| Abstract | 金刚石在很多领域有着广泛的用途，因而金刚石的生长技术历来受到重视。在众多的生长技术中，质量选择粒子束（MSIBD）是一个引人注目的生长技术。但是这一方法能否得到金刚石，尚未有明确的结论。我们利用高分辩电子显微镜结合电子能量损失谱，观察了用这一方法制备的样品，以期为研究金刚石的生长机理提供更多的线索。 |
| metadata_83 | 香港城市大学物理和材料科学系及超金刚石和先进薄膜中心;中国科学院半导体研究所 |
| Subject Area | 半导体材料 |
| Indexed By | CSCD |
| Language | 中文 |
| CSCD ID | CSCD:980701 |
| Date Available | 2010-11-23 |
| Citation statistics | |
| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18059 |
| Collection | 中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 姚湲,谬梅勇,王占国,等. MSIBD金刚石颗粒的电子显微镜研究[J]. 电子显微学报,2002,21(5):607-608. |
| APA | 姚湲,谬梅勇,王占国,&李述汤.(2002).MSIBD金刚石颗粒的电子显微镜研究.电子显微学报,21(5),607-608. |
| MLA | 姚湲,et al."MSIBD金刚石颗粒的电子显微镜研究".电子显微学报 21.5(2002):607-608. |
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