IC测试系统精密定时器的新结构

SEMI OpenIR > 中国科学院半导体研究所（2009年前）

	IC测试系统精密定时器的新结构
	王东辉; 施映; 林雨
	2002
Source Publication	半导体学报
Volume	23 Issue:11 Pages:1224-1227
Abstract	讨论了一种适合于VLSI的精密定时子系统的新结构。该结构将定时计数器分为高速和低速两部分，低速部分采用存储器代替分散的寄存器，既有利于集成，又降低了系统的成本。同时，新的精密定时子系统还解决了定时中不完整周期的问题。
metadata_83	中国科学院半导体研究所
Subject Area	微电子学
Indexed By	CSCD
Language	中文
CSCD ID	CSCD:1007625
Date Available	2010-11-23
Citation statistics
Document Type	期刊论文
Identifier	http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17987
Collection	中国科学院半导体研究所（2009年前）
Recommended Citation GB/T 7714	王东辉,施映,林雨. IC测试系统精密定时器的新结构[J]. 半导体学报,2002,23(11):1224-1227.
APA	王东辉,施映,&林雨.(2002).IC测试系统精密定时器的新结构.半导体学报,23(11),1224-1227.
MLA	王东辉,et al."IC测试系统精密定时器的新结构".半导体学报 23.11(2002):1224-1227.

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