Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 光探测器芯片的高频特性测量 | |
张胜利; 孙建伟; 刘宇 ; 祝宁华
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| 2004 | |
| Source Publication | 中国激光
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| Volume | 31Issue:7Pages:857-860 |
| Abstract | 为了克服用共面探针测量光探测器芯片的高频特性对电极结构的限制,提出了一种精确测量光探测器芯片的阻抗和频率响应的新方法.对于任意电极结构的探测器芯片,首先把芯片与测试夹具连接,通过一系列的校准和测量,可以得到夹具的S参数,进而利用微波理论扣除整个测试夹具的影响,得到探测器芯片的S参数,计算出光探测器的阻抗和频率响应特性.用该方法对P极和N极共面的光探测器芯片的阻抗和频率响应特性进行了测量,并与直接用微波探针测量的结果相比较,验证了该方法在50 MHz～16 GHz的频率范围内的正确性. |
| metadata_83 | 中国科学院半导体研究所 |
| Subject Area | 光电子学 |
| Funding Organization | 国家863计划,国家973计划,国家杰出青年基金 |
| Indexed By | CSCD |
| Language | 中文 |
| CSCD ID | CSCD:1616953 |
| Date Available | 2010-11-23 |
| Citation statistics | |
| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17469 |
| Collection | 中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 张胜利,孙建伟,刘宇,等. 光探测器芯片的高频特性测量[J]. 中国激光,2004,31(7):857-860. |
| APA | 张胜利,孙建伟,刘宇,&祝宁华.(2004).光探测器芯片的高频特性测量.中国激光,31(7),857-860. |
| MLA | 张胜利,et al."光探测器芯片的高频特性测量".中国激光 31.7(2004):857-860. |
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| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
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