SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)
数字集成电路故障测试策略和技术的研究进展
于云华; 石寅
2004
Source Publication电路与系统学报
Volume9Issue:3Pages:83-91
AbstractIC制造艺的发展,持续增加着VLSI电路的集成密度,亦日益加大了电路故障测试的复杂性和困难度。作者在承担相应研究课题的基础上,综述了常规通用测试方法和技术,并分析了其局好性。详细叙述了边界扫描测试(BST)标准、可测性设计(DFT)思想和内建自测试(BIST)策略。针对片上系统(SoC)和深亚微米(VDSM)技术给故障测试带来的新挑战,本文进行了初步的论述和探讨
metadata_83中国科学院半导体技术研究所
Subject Area微电子学
Funding Organization国家自然科学专项基金资助项目(9 2 7 8),国家自然科学专项基金资助项目(9 2 7 8)
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:1639885
Date Available2010-11-23
Citation statistics
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17437
Collection中国科学院半导体研究所(2009年前)
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GB/T 7714
于云华,石寅. 数字集成电路故障测试策略和技术的研究进展[J]. 电路与系统学报,2004,9(3):83-91.
APA 于云华,&石寅.(2004).数字集成电路故障测试策略和技术的研究进展.电路与系统学报,9(3),83-91.
MLA 于云华,et al."数字集成电路故障测试策略和技术的研究进展".电路与系统学报 9.3(2004):83-91.
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