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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 期刊论文

题名: 数字集成电路故障测试策略和技术的研究进展
作者: 于云华;  石寅
发表日期: 2004
摘要: IC制造艺的发展,持续增加着VLSI电路的集成密度,亦日益加大了电路故障测试的复杂性和困难度。作者在承担相应研究课题的基础上,综述了常规通用测试方法和技术,并分析了其局好性。详细叙述了边界扫描测试(BST)标准、可测性设计(DFT)思想和内建自测试(BIST)策略。针对片上系统(SoC)和深亚微米(VDSM)技术给故障测试带来的新挑战,本文进行了初步的论述和探讨
刊名: 电路与系统学报
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_期刊论文

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推荐引用方式:
于云华;石寅.数字集成电路故障测试策略和技术的研究进展,电路与系统学报,2004,9(3):83-91
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