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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 期刊论文

题名: SOI集成电路的ESD保护技术研究进展
作者: 姜凡;  刘忠立
发表日期: 2004
摘要: 近年来,随着SOI技术的快速发展,SOI集成电路的ESD保护已成为一个主要的可靠性设计问题.介绍了SOI ESD保护器件方面的最新进展,阐述了在SOI ESD保护器件设计和优化中出现的新问题,并进行了详细的讨论.
刊名: 微电子学
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_期刊论文

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姜凡;刘忠立.SOI集成电路的ESD保护技术研究进展,微电子学,2004,34(5):497-500,513
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