高速信号眼图测试中夹具影响的校准

SEMI OpenIR > 中国科学院半导体研究所（2009年前）

	高速信号眼图测试中夹具影响的校准
	孙建伟; 张胜利; 王幼林; 谢亮; 祝宁华
	2004
Source Publication	电子学报
Volume	32 Issue:9 Pages:1563-1565
Abstract	为了在器件的高速信号眼图测试中去除夹具的影响,本文首次提出了一种利用时域和频域测量相结合,通过快速傅立叶变换和反变换,对眼图测试校准的方法,并进行了实验验证.实验发现校准后眼图的张开高度、Q因子、上升时间、下降时间、峰峰抖动等参数改变明显,并且校准后的眼图与直接测试结果符合得很好.
metadata_83	中国科学院半导体研究所
Subject Area	光电子学
Funding Organization	国家"973"项目,国家杰出青年基金
Indexed By	CSCD
Language	中文
CSCD ID	CSCD:1706787
Date Available	2010-11-23
Citation statistics	Cited Times:1[CSCD] [CSCD Record]
Document Type	期刊论文
Identifier	http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17331
Collection	中国科学院半导体研究所（2009年前）
Recommended Citation GB/T 7714	孙建伟,张胜利,王幼林,等. 高速信号眼图测试中夹具影响的校准[J]. 电子学报,2004,32(9):1563-1565.
APA	孙建伟,张胜利,王幼林,谢亮,&祝宁华.(2004).高速信号眼图测试中夹具影响的校准.电子学报,32(9),1563-1565.
MLA	孙建伟,et al."高速信号眼图测试中夹具影响的校准".电子学报 32.9(2004):1563-1565.

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