Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 高速信号眼图测试中夹具影响的校准 | |
| 孙建伟; 张胜利; 王幼林; 谢亮; 祝宁华 | |
| 2004 | |
| Source Publication | 电子学报
 |
| Volume | 32Issue:9Pages:1563-1565 |
| Abstract | 为了在器件的高速信号眼图测试中去除夹具的影响,本文首次提出了一种利用时域和频域测量相结合,通过快速傅立叶变换和反变换,对眼图测试校准的方法,并进行了实验验证.实验发现校准后眼图的张开高度、Q因子、上升时间、下降时间、峰峰抖动等参数改变明显,并且校准后的眼图与直接测试结果符合得很好. |
| metadata_83 | 中国科学院半导体研究所 |
| Subject Area | 光电子学 |
| Funding Organization | 国家"973"项目,国家杰出青年基金 |
| Indexed By | CSCD |
| Language | 中文 |
| CSCD ID | CSCD:1706787 |
| Date Available | 2010-11-23 |
| Citation statistics | |
| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17331 |
| Collection | 中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 孙建伟,张胜利,王幼林,等. 高速信号眼图测试中夹具影响的校准[J]. 电子学报,2004,32(9):1563-1565. |
| APA | 孙建伟,张胜利,王幼林,谢亮,&祝宁华.(2004).高速信号眼图测试中夹具影响的校准.电子学报,32(9),1563-1565. |
| MLA | 孙建伟,et al."高速信号眼图测试中夹具影响的校准".电子学报 32.9(2004):1563-1565. |
| Files in This Item: | ||||||
| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| 4682.pdf（211KB） | 限制开放 | -- | Application Full Text | |||
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment