SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)
半导体激光器相对强度噪声的实验研究
朱晓鹏; 甘巧强; 任刚; 宋国锋; 叶晓军; 孙永伟; 曹青; 陈良惠
2005
Source Publication激光技术
Volume29Issue:3Pages:241-243
Abstract建立了一套半导体激光器噪声测量系统用于生产测量和科学研究,其特点是简易,且兼容性大.用该系统对相关的半导体激光器(不同腔长,镀膜与不镀膜等)进行了测量研究,着重研究了镀膜与不镀膜的条件对激光器噪声特性的影响,发现镀膜后管芯一致性提高、受反馈影响增大.为实际生产提供了改进建议,即需要针对实际应用来精心选择端面镀膜的反射率,前端面镀膜反射率不能太低.
metadata_83中国科学院,半导体研究所
Subject Area光电子学
Funding Organization国家八六三计划资助项目
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:1964557
Date Available2010-11-23
Citation statistics
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17095
Collection中国科学院半导体研究所(2009年前)
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GB/T 7714
朱晓鹏,甘巧强,任刚,等. 半导体激光器相对强度噪声的实验研究[J]. 激光技术,2005,29(3):241-243.
APA 朱晓鹏.,甘巧强.,任刚.,宋国锋.,叶晓军.,...&陈良惠.(2005).半导体激光器相对强度噪声的实验研究.激光技术,29(3),241-243.
MLA 朱晓鹏,et al."半导体激光器相对强度噪声的实验研究".激光技术 29.3(2005):241-243.
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