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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 期刊论文

题名: 有缺陷和无缺陷量子点内应变分布的比较与分析
作者: 杨红波;  俞重远;  刘玉敏;  黄永箴
发表日期: 2005
摘要: 阐述了量子点内能级结构与应变的关系,用ANSYS7.1计算了有缺陷和无缺陷两种情况下
刊名: 高技术通讯
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_期刊论文

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杨红波;俞重远;刘玉敏;黄永箴.有缺陷和无缺陷量子点内应变分布的比较与分析,高技术通讯,2005,15(6):46-49
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