SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)
晶格热振动对准二维强耦合极化子有效质量的影响
额尔敦朝鲁; 李树深; 肖景林
2005
Source Publication物理学报
Volume54Issue:9Pages:4285-4293
Abstract采用Tokuda改变的线性组合算符法和改进的LLP变分法,研究了晶格热振动对无限势垒量子阱中电子与界面光学声子强耦合、与体纵光学声子弱耦合系统的影响,推导出作为阱宽和温度函数的极化子有效质量的表达式.尤其得到了量子阱中极化子的振动频率及其随阱宽和温度变化的规律.对Kl/AgCl/Kl量子阱进行了数值计算,结果表明,极化子的振动频率和有效质量随阱宽的增加而减小、随温度的升高而减小,但不同支声子与电子相互作用对极化子的振动频率和有效质量的贡献以及它们随阱宽和温度的变化情况大不相同.
metadata_83河北科技师范学院数理系;中国科学院半导体研究所;内蒙古民族大学物理与机电学院
Subject Area半导体物理
Funding Organization国家自然科学基金,国家重点基础研究专项经费,内蒙古自然科学基金,内蒙古高校重大科研项目基金资助的课题
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:2170560
Date Available2010-11-23
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Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/16855
Collection中国科学院半导体研究所(2009年前)
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GB/T 7714
额尔敦朝鲁,李树深,肖景林. 晶格热振动对准二维强耦合极化子有效质量的影响[J]. 物理学报,2005,54(9):4285-4293.
APA 额尔敦朝鲁,李树深,&肖景林.(2005).晶格热振动对准二维强耦合极化子有效质量的影响.物理学报,54(9),4285-4293.
MLA 额尔敦朝鲁,et al."晶格热振动对准二维强耦合极化子有效质量的影响".物理学报 54.9(2005):4285-4293.
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