SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)
基于光外差技术的超宽带频率响应测量系统
伞海生; 温继敏; 刘戬; 谢亮; 祝宁华
2005
Source Publication光学学报
Volume25Issue:11Pages:1497-1500
Abstract介绍了一种利用光外差技术测量光电探测器超宽带频率响应的测试方法。将一个可调谐外腔激光器和一个固定波长的分布反馈激光器(DFB-LD’s)产生的激光输入到光电探测器进行混频。通过对可调激光器腔长的控制,可以在光电探测器产生从DC到上百GHz的拍频信号,在无需额外校准光源的情况下就可以进行光电探测器超宽带频率响应特性的测试,这是该方法最突出的优点。实验证明该方法比较准确、简便、易于操作。在实验中,对两个不同的InGaAs p-i—n探测器进行测量,得到器件的3dB带宽分别为14.4GHz和40GHz。该测量方法对同类实验的研究和应用都具有实用意义。
metadata_83中国科学院半导体研究所
Subject Area光电子学
Funding Organization国家863计划,国家973计划,国家基金委重大国际合作项目
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:2191335
Date Available2010-11-23
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Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/16827
Collection中国科学院半导体研究所(2009年前)
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GB/T 7714
伞海生,温继敏,刘戬,等. 基于光外差技术的超宽带频率响应测量系统[J]. 光学学报,2005,25(11):1497-1500.
APA 伞海生,温继敏,刘戬,谢亮,&祝宁华.(2005).基于光外差技术的超宽带频率响应测量系统.光学学报,25(11),1497-1500.
MLA 伞海生,et al."基于光外差技术的超宽带频率响应测量系统".光学学报 25.11(2005):1497-1500.
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