Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 影响集成电感性能的关键因素 | |
姚飞; 成步文 ; 王启明
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| 2006 | |
| Source Publication | 电子器件
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| Volume | 29Issue:1Pages:105-109 |
| Abstract | 片上集成电感是单片集成射频电路、微波电路及光电集成电路中不可缺少的重要元件。高Q值的片上集成电感是IC工作者追求的目标。衬底损耗和金属损耗一直被认为是限制集成电感品质的主要因素,文中实例为证，在尽量消除衬底损耗和减小金属损耗条件下。得出它们并不是片上集成电感的决定性限制因素。本文从电感的定义出发，得出电感螺旋线之间磁通量的相互抵消是集成电感不能获得高Q值的决定因素。并通过螺旋电感的模拟计算和结合已有的实验，对此论点进行了论证。 |
| metadata_83 | 中国科学院半导体研究所 |
| Subject Area | 光电子学 |
| Funding Organization | 863计划项目资助,973研究项目资助 |
| Indexed By | CSCD |
| Language | 中文 |
| CSCD ID | CSCD:2350002 |
| Date Available | 2010-11-23 |
| Citation statistics |
Cited Times:1[CSCD]
[CSCD Record]
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| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/16687 |
| Collection | 中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 姚飞,成步文,王启明. 影响集成电感性能的关键因素[J]. 电子器件,2006,29(1):105-109. |
| APA | 姚飞,成步文,&王启明.(2006).影响集成电感性能的关键因素.电子器件,29(1),105-109. |
| MLA | 姚飞,et al."影响集成电感性能的关键因素".电子器件 29.1(2006):105-109. |
| Files in This Item: | ||||||
| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| 4300.pdf（419KB） | 限制开放 | -- | Application Full Text | |||
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