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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 期刊论文

题名: A Radial Stub Test Circuit for Microwave Power Devices
作者: Luo Weijun;  Chen Xiaojuan;  Liang Xiaoxin;  Ma Xiaolin;  Liu Xinyu;  Wang Xiaoliang
发表日期: 2006
摘要: With the principles of microwave circuits and semiconductor device physics, two microwave power device test circuits combined with a test fixture are designed and simulated, whose properties are evaluated by a parameter network analyzer within the frequency range from 3 to 8GHz. The simulation and experimental results verify that the test circuit with a radial stub is better than that without. As an example, a C-band AlGaN/GaN HEMT microwave power device is tested with the designed circuit and fixture. With a 5.4GHz microwave input signal, the maximum gain is 8.75dB, and the maximum output power is 33.2dBm.
刊名: 半导体学报
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_期刊论文

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推荐引用方式:
Luo Weijun;Chen Xiaojuan;Liang Xiaoxin;Ma Xiaolin;Liu Xinyu;Wang Xiaoliang.A Radial Stub Test Circuit for Microwave Power Devices,半导体学报,2006,27(9):1557-1561
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