高级检索   注册
SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 期刊论文

题名: 量子点阵列光致荧光谱温度依赖性研究
作者: 刘国梁;  姚江宏;  许京军;  王占国
发表日期: 2007
摘要: 多模量子点阵列的光致荧光(PL)光谱的温度依赖性研究对于实现高效的量子点光电器件有着非常重要的意义.利用速率方程模型模拟不同密度量子点阵列中的载流子动力学过程.研究表明,高密度量子点阵列中不同尺寸量子点族的PL强度表现不同的温度依赖关系;而低密度量子点阵列不同点族PL强度均随温度衰减.高密度量子点阵列中,载流子被热激发到浸润层后,部分地被大量子点再俘获,即在量子点族间转移;低密度量子点阵列中不同量子点族间的载流子转移受到限制。不同量子点族光致荧光强度比的最大值强烈地依赖于量子点的激活能差。
刊名: 量子电子学报
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_期刊论文

条目包含的文件

文件 大小格式
4108.pdf249KbAdobe PDF浏览/下载


许可声明:条目相关作品遵循知识共享协议(Creative Commons)。


推荐引用方式:
刘国梁;姚江宏;许京军;王占国.量子点阵列光致荧光谱温度依赖性研究,量子电子学报,2007,24(1):100-104
个性服务
 推荐该条目
 保存到收藏夹
 查看访问统计
 Endnote导出
Google Scholar
 Google Scholar中相似的文章
 [刘国梁]的文章
 [姚江宏]的文章
 [许京军]的文章
CSDL跨库检索
 CSDL跨库检索中相似的文章
 [刘国梁]的文章
 [姚江宏]的文章
 [许京军]的文章
Scirus search
 Scirus中相似的文章
Social Bookmarking
  Add to CiteULike  Add to Connotea  Add to Del.icio.us  Add to Digg  Add to Reddit 
所有评论 (0)
暂无评论

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。

 

 

Valid XHTML 1.0! 版权所有 © 2007-2012  中国科学院半导体研究所  -反馈
系统开发与技术支持:中国科学院国家科学图书馆兰州分馆(信息系统部)
本系统基于 MIT 和 Hewlett-Packard 的 DSpace 软件开发