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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 期刊论文

题名: Electro-Optical Effect Measurement of Thin-Film Material Using PM Fiber Mach-Zehnder Interferometer
作者: Tu Xiaoguang;  Zhao Lei;  Chen Ping;  Chen Shaowu;  Zuo Yuhua;  Yu Jinzhong;  Wang Qiming
发表日期: 2007
摘要: A polarization-maintaining (PM) fiber Mach-Zehnder (MZ) interferometer has been established to measure the EO effect of very thin film materials with optical anisotropy. Unlike a common MZ interferometer,all the components are connected via polarization-maintaining fibers. At the same time, a polarized DFB laser with a maximum power output of 10mW is adopted as the light source to induce a large extinction ratio. Here, we take it to determine the electro-optical coefficients of a very thin superlattice structure with GaAs, KTP, and GaN as comparative samples. The measured EO coefficients show good comparability with the others.
刊名: 半导体学报
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_期刊论文

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Tu Xiaoguang;Zhao Lei;Chen Ping;Chen Shaowu;Zuo Yuhua;Yu Jinzhong;Wang Qiming.Electro-Optical Effect Measurement of Thin-Film Material Using PM Fiber Mach-Zehnder Interferometer,半导体学报,2007,28(7):1012-1016
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