SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)
显微光谱研究半绝缘GaAs带边以上E_0+△_0光学性质
包志华; 景为平; 罗向东; 谭平恒
2007
Source Publication物理学报
Volume56Issue:7Pages:4213-4217
Abstract通过显微光致发光技术和显微拉曼(Raman)技术研究了半绝缘GaAs(SI-GaAs)晶体的带边附近的发光.在光荧光谱中,观察到在高于GaAs带边0.348 eV处有一个新的荧光峰.结合Raman谱指认此发光峰来源于GaAs的E_0+△_0能级的非平衡荧光发射.同时,通过研究E_0+△_0能级的偏振、激发光强度依赖关系,以及温度依赖关系说明E_0+△_0能级与带边E_0共享了共同的导带位置Г_6,同时这也说明在GaAs中主要是导带的性质决定了材料的光学行为.同时,通过与n-GaAs和δ掺杂GaAs相比较,半绝缘GaAs晶体的E_0+△_0能级的发光峰更能反映GaAs电子能级高临界点E_0+△_0的能量位置和物理性质.研究结果说明显微光致发光技术是研究半导体材料带边以上能级光学性质的一种非常有力的研究工具.
metadata_83南通大学;中国科学院半导体研究所
Subject Area半导体物理
Funding Organization南通大学校级项目,江苏省自然科学基金,江苏省"六大人才高峰"项目
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:2836729
Date Available2010-11-23
Citation statistics
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/16295
Collection中国科学院半导体研究所(2009年前)
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GB/T 7714
包志华,景为平,罗向东,等. 显微光谱研究半绝缘GaAs带边以上E_0+△_0光学性质[J]. 物理学报,2007,56(7):4213-4217.
APA 包志华,景为平,罗向东,&谭平恒.(2007).显微光谱研究半绝缘GaAs带边以上E_0+△_0光学性质.物理学报,56(7),4213-4217.
MLA 包志华,et al."显微光谱研究半绝缘GaAs带边以上E_0+△_0光学性质".物理学报 56.7(2007):4213-4217.
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