SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)
数据采集片上系统动态性能测试的新方法
李倩; 马晓燕; 鲁华祥
2008
Source Publication电子技术应用
Volume34Issue:1Pages:111-113
Abstract提出一种新的方法用于高精度数据采集片上系统的动态性能测试。该方法利用高维空间几何矢量投影的思想,将正弦响应信号向由其各次谐波组成的正交基投影来拟合测试数据,以残差的负熵作为拟合结束的判据,使残差最大限度接近白噪声,避免了传统以残差最小为判据的过拟合问题。实验证明了该方法的有效性。
metadata_83中国电子信息产业发展研究院信息技术研究所;中国科学院半导体研究所神经网络实验室
Subject Area微电子学
Funding Organization国家自然科学基金资助(6 576 33),863资助项目(2 6AA 1Z1 6)
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:3208859
Date Available2010-11-23
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Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/16131
Collection中国科学院半导体研究所(2009年前)
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GB/T 7714
李倩,马晓燕,鲁华祥. 数据采集片上系统动态性能测试的新方法[J]. 电子技术应用,2008,34(1):111-113.
APA 李倩,马晓燕,&鲁华祥.(2008).数据采集片上系统动态性能测试的新方法.电子技术应用,34(1),111-113.
MLA 李倩,et al."数据采集片上系统动态性能测试的新方法".电子技术应用 34.1(2008):111-113.
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