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SEMI OpenIR  > 中科院半导体材料科学重点实验室  > 期刊论文

题名: Stretchable Graphene: A Close Look at Fundamental Parameters through Biaxial Straining
作者: Ding F (Ding Fei);  Ji HX (Ji Hengxing);  Chen YH (Chen Yonghai);  Herklotz A (Herklotz Andreas);  Dorr K (Doerr Kathrin);  Mei YF (Mei Yongfeng);  Rastelli A (Rastelli Armando);  Schmidt OG (Schmidt Oliver G.)
发表日期: 2010
KOS主题词: Graphene;  Gruneisen parameters;  Raman spectroscopy
刊名: NANO LETTERS
专题: 中科院半导体材料科学重点实验室_期刊论文

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Ding F (Ding Fei), Ji HX (Ji Hengxing), Chen YH (Chen Yonghai), Herklotz A (Herklotz Andreas), Dorr K (Doerr Kathrin), Mei YF (Mei Yongfeng), Rastelli A (Rastelli Armando), Schmidt OG (Schmidt Oliver G.).Stretchable Graphene: A Close Look at Fundamental Parameters through Biaxial Straining.NANO LETTERS,2010,10(9):3453-3458
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