Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 针对多模式逻辑单元可编程门阵列的工艺映射方法 | |
| 张 琨; 周华兵; 陈陵都; 刘忠立 | |
| 2010-08-12 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2010-02-24 ; 2010-08-12 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 本发明公开了一种针对多模式逻辑单元可编程门阵列的工艺映射方法，该方法包括映射和合并两个步骤，首先对输入的与具体工艺无关的门级电路网表进行解析，并对解析的结果进行工艺映射，然后再根据多模式LC的约束信息对工艺映射结果进行合并处理，计算出多模式LC的模式配置值，得到最终优化的工艺相关的电路网表。利用本发明，解决了多模式逻辑单元结构FPGA的工艺映射问题，充分利用了基于两个LUT3的LC结构的优势。 |
| 申请日期 | 2008-08-20 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 实质审查的生效 |
| 申请号 | CN200810118735.9 |
| 专利代理人 | 周国城:中科专利商标代理有限责任公司 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/13380 |
| 专题 | 中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张 琨,周华兵,陈陵都,等. 针对多模式逻辑单元可编程门阵列的工艺映射方法[P]. 2010-08-12. |
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