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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 期刊论文

题名: New insight into the origin of twin and grain boundary in InP
作者: Han Y;  Lin L
发表日期: 1999
摘要: X-ray reflectivity curves show bi-crystal (twin) characteristics. Defect segregations at the twin boundary can be seen, whereas stress is relaxed at the edge of the boundary. Relaxation of the stress resulted in the formation of twins and other defects. As a result of the formation of such defects, a defect-free and stress-free zone or low defect density and small stress zone is created around the defects. Stress, chemical stoichiometry deviation and non-homogeneous distribution of impurities are the key factors that cause twins in LEC InP crystal growth. (C) 1999 Elsevier Science Ltd. All rights reserved.
KOS主题词: Semiconductors;  Synchrotron radiation;  SINGLE CRYSTALS;  Liquid phase epitaxy;  Czochralski
刊名: SOLID STATE COMMUNICATIONS
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_期刊论文

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Han Y; Lin L .New insight into the origin of twin and grain boundary in InP ,SOLID STATE COMMUNICATIONS,1999,110(7):403-406
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