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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 期刊论文

题名: Analysis of mode quality factors for equilateral triangle semiconductor microlasers with rough sidewalls
作者: Huang YZ;  Guo WH;  Yu LJ
发表日期: 2002
摘要: The eigenmode characteristics for equilateral triangle resonator (ETR) semiconductor microlasers are analysed by the finite-difference time-domain technique and the Pade approximation. The random Gaussian correlation function and sinusoidal function are used to model the side roughness of the ETR. The numerical results show that the roughness can cause the split of the degenerative modes, but the confined modes can still have a high quality factor. For the ETR with a 3 mum side length and the sinusoidal fluctuation, we can have a quality factor of 800 for the fundamental mode in the wavelength of 1500 nm, as the amplitude of roughness is 75 mn.
KOS主题词: resonant frequencies;  Pade approximation;  laser cavity resonators
刊名: CHINESE PHYSICS LETTERS
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_期刊论文

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Huang YZ; Guo WH; Yu LJ .Analysis of mode quality factors for equilateral triangle semiconductor microlasers with rough sidewalls ,CHINESE PHYSICS LETTERS,2002,19 (5):674-676
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