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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 期刊论文

题名: New algorithms of the TSM and TOM methods for calibrating microwave test fixtures
作者: Zhu NH;  Chen ZY;  Wang YL
发表日期: 2002
摘要: Based on the conventional through-short-match (TSM) method, an improved TSM method has been proposed in this Letter. This method gives an analytical solution and has almost all the advantages of conventional TSM methods. For example, it has no phase uncertainty and no bandwidth limitation. The experimental results show that the accuracy can be significantly improved with this method. The proposed theory can be applied to the through-open-match (TOM) method. (C) 2002 Wiley Periodicals. Inc.
KOS主题词: Calibration
刊名: MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY LETTERS
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_期刊论文

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Zhu NH; Chen ZY; Wang YL .New algorithms of the TSM and TOM methods for calibrating microwave test fixtures ,MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY LETTERS,2002,34 (1):26-31
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