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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 期刊论文

题名: A 16-term error model based on linear equations of voltage and current variables
作者: Silvonen K;  Zhu NH;  Liu Y
发表日期: 2006
摘要: Formulation of a 16-term error model, based on the four-port ABCD-matrix and voltage and current variables, is outlined. Matrices A, B, C, and D are each 2 x 2 submatrices of the complete 4 x 4 error matrix. The corresponding equations are linear in terms of the error parameters, which simplifies the calibration process. The parallelism with the network analyzer calibration procedures and the requirement of five two-port calibration measurements are stressed. Principles for robust choice of equations are presented. While the formulation is suitable for any network analyzer measurement, it is expected to be a useful alternative for the nonlinear y-parameter approach used in intrinsic semiconductor electrical and noise parameter measurements and parasitics' deembedding.
KOS主题词: Calibration;  System analysis;  Heraldry
刊名: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_期刊论文

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Silvonen K; Zhu NH; Liu Y .A 16-term error model based on linear equations of voltage and current variables ,IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES,2006,54(4):1464-1469
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